CFG-500系列电容薄膜真空计，采用高精度陶瓷膜片技术，测量精度达±0.25%，重复性±0.1%，响应时间<10ms。抗干扰能力强，适用于半导体、薄膜镀膜、真空炉等中高真空环境的精确测量与控制。
CFG-500系列电容薄膜真空计，采用高精度陶瓷膜片技术，测量精度±0.25%，重复性±0.1%，响应时间<10ms。抗干扰能力强，适用于半导体、薄膜镀膜、真空炉等中高真空环境
